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KEJSY-A型 抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀
一、儀器概況
KEJSY-A型抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種先進(jìn)的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于超頻、變頻、工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。
本測(cè)試儀淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓，采用變頻技術(shù)，故抗干擾能力強(qiáng)，測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)。另外，本介質(zhì)損耗測(cè)試儀針對(duì)電容式電壓互感器（CVT）試驗(yàn)困難的特點(diǎn)，增設(shè)了外接法測(cè)試，外接標(biāo)準(zhǔn)電容器、調(diào)壓器，使得測(cè)試非常簡(jiǎn)單可靠，是我公司第四代智能化抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀。
二、技術(shù)指標(biāo)
1、環(huán)境：-10℃～40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間日照）
2、相對(duì)濕度：30％～70％
3、供電電源：電壓：220V±10％，頻率50Hz
4、外形尺寸：長(zhǎng)×寬×高=435mm×300mm×300mm
5、重量：20kg
KEJSY-A型抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種先進(jìn)的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于超頻、變頻、工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。
本測(cè)試儀淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓，采用變頻技術(shù)，故抗干擾能力強(qiáng)，測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)。另外，本介質(zhì)損耗測(cè)試儀針對(duì)電容式電壓互感器（CVT）試驗(yàn)困難的特點(diǎn)，增設(shè)了外接法測(cè)試，外接標(biāo)準(zhǔn)電容器、調(diào)壓器，使得測(cè)試非常簡(jiǎn)單可靠，是我公司第四代智能化抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀。
二、技術(shù)指標(biāo)
1、環(huán)境：-10℃～40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間日照）
2、相對(duì)濕度：30％～70％
3、供電電源：電壓：220V±10％，頻率50Hz
4、外形尺寸：長(zhǎng)×寬×高=435mm×300mm×300mm
5、重量：20kg
6、輸出功率：1KVA
7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）
8、測(cè)試方法：正接法、反接法、外接法
9、測(cè)量范圍：內(nèi)接試驗(yàn)電壓：≤60000PF 外接試驗(yàn)電壓：≤10μF
10、基本測(cè)量誤差：介質(zhì)損耗（tgδ）：1.5％±0.09％ 電容容量（Cx）：1.0％±2PF
7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）
8、測(cè)試方法：正接法、反接法、外接法
9、測(cè)量范圍：內(nèi)接試驗(yàn)電壓：≤60000PF 外接試驗(yàn)電壓：≤10μF
10、基本測(cè)量誤差：介質(zhì)損耗（tgδ）：1.5％±0.09％ 電容容量（Cx）：1.0％±2PF
